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商品详情
1785-L40L 全新原装正品质保一年
.功能与参数测试
1.<测试仪>对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区.但不
能测出工作频率的高低和速度的快慢等具体数值等.
2.同理对TTL数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化.而无
法查出它的上升与下降沿的速度.
四.晶体振荡器
1.通常只能用示波器(晶振需加电)或频率计测试,万用表等无法测量,
否则只能采用代换法了.
2.晶振常见故障有:a.内部漏电,b.内部开路c.变质频偏d.外围相连电
容漏电.这里漏电现象,用<测试仪>的VI曲线应能测出.
3.整板测试时可采用两种判断方法:a.测试时晶振附近既周围的有关
芯片不通过.b.除晶振外没找到其它故障点.
4.晶振常见有2种:a.两脚.b.四脚,其中第2脚是加电源的,注意不可随
意短路.
1785-L40L 全新原装正品质保一年
1784-PCIC 1785-ENET 1794-ACN15
1784-PCICS 1785-L20B 1794-ACNR
1784-PCIDS 1785-L20E 1794-ACNR15
1784-PKTCS 1785-L26B 1794-ADN
1784-PKTX 1785-L40B 1794-ADNK
1784-PKTXD 1785-L40C 1794-AENT
1784-U2CN 1785-L40C15 1794-AENTR
1784-U2DHP 1785-L40E 1794-IA16
1784-U2DN 1785-L46C15 1794-IA8
1785-ENET 1785-L60B 1794-IA8I
1785-L20B 1785-L60L 1794-IB10XOB6
1785-L20E 1785-L80B 1794-IB16
1785-L40B 1785-L80C 1794-IB16D
1785-L40C 1785-L80C15 1794-IB16XT
1785-L40C15 1785-L80E 1794-IB32
1785-L40E 1785-L86B 1794-IB8
1785-L60B 1785-L11B 1794-IC16
1785-L60L 1785-L20C15 1794-IE12
1785-L80B 1785-L30B 1794-IE4XOE2
1785-L80C 1785-L40L 1794-IE8
1785-L80C15 1785-L46B 1794-IE8H
1785-L80E 2711P-T6C8A 1794-IF4I
2711P-T12C4A8 2711P-T6C8D 1794-IF4IXT
2711P-T12C4A9 2711P-T6M1A 1794-IF8IH
2711P-T12C4D6K 2711P-T6M1D 1794-IG16
2711P-T12C4D8K 2711P-T6M20A 1794-IH16
2711P-T12C4D9 2711P-T6M20D 1794-IJ2
2711P-T15C10D2 2711P-T6M20D8 1794-IM16
2711P-T15C10D6 2711P-T6M3A 1794-IM8
2711P-T15C15D5 2711P-T6M3D 1794-IR8
2711P-T15C1D2 2711P-T6M5A 1794-IRT8
2711P-T15C4A7 2711P-T6M5D 1794-IV16
2711P-T15C4A8 2711P-T6M8A 1794-IV32
2711P-T15C4A9 2711P-T6M8D 1794-OA16
2711P-T15C4D5 2711P-T7C10D2 1794-OA8
2711P-T15C4D7 2711P-T7C10D6 1794-OA8I
1785-L40L 全新原装正品质保一年
1、一个系统中使用的成熟技术至少应占到75%以上
“成熟技术”一是经过一定的生产实践考验的可编程控制器产品或类似设计，或者确定能在未来的生产实践中，经得起考验；二是设计工作人员对于需要使用的技术要有经验或有掌握它的能力。设计与配置一个可编程序控制系统 的技术与设计方案切实可行。因为一个生产过程控制系统，一旦做出来，要长久使用下去，难以找到机会反复修改。设计的硬件系 统和编程软件，其中某些缺欠，可能一直隐藏在已完成的系统中。若遇到发生破坏作用的条件，后果难以预料。
2、系统的硬件结构和网络要简明而清晰
硬件结构不要追求繁琐，网络组态不要追求交叉因素太多，要力求使用可编程序控制器自 身配置的组网能力。在组成I/O机箱配套的模板时，建议型号简单，力求一致，模板密度不宜过大。使用的结线点不宜过多，从目前机箱的制造和配线工艺来看，输入与输出配线密度不能太高。
.功能与参数测试
1.<测试仪>对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区.但不
能测出工作频率的高低和速度的快慢等具体数值等.
2.同理对TTL数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化.而无
法查出它的上升与下降沿的速度.
四.晶体振荡器
1.通常只能用示波器(晶振需加电)或频率计测试,万用表等无法测量,
否则只能采用代换法了.
2.晶振常见故障有:a.内部漏电,b.内部开路c.变质频偏d.外围相连电
容漏电.这里漏电现象,用<测试仪>的VI曲线应能测出.
3.整板测试时可采用两种判断方法:a.测试时晶振附近既周围的有关
芯片不通过.b.除晶振外没找到其它故障点.
4.晶振常见有2种:a.两脚.b.四脚,其中第2脚是加电源的,注意不可随
意短路.
1785-L40L 全新原装正品质保一年
1784-PCIC 1785-ENET 1794-ACN15
1784-PCICS 1785-L20B 1794-ACNR
1784-PCIDS 1785-L20E 1794-ACNR15
1784-PKTCS 1785-L26B 1794-ADN
1784-PKTX 1785-L40B 1794-ADNK
1784-PKTXD 1785-L40C 1794-AENT
1784-U2CN 1785-L40C15 1794-AENTR
1784-U2DHP 1785-L40E 1794-IA16
1784-U2DN 1785-L46C15 1794-IA8
1785-ENET 1785-L60B 1794-IA8I
1785-L20B 1785-L60L 1794-IB10XOB6
1785-L20E 1785-L80B 1794-IB16
1785-L40B 1785-L80C 1794-IB16D
1785-L40C 1785-L80C15 1794-IB16XT
1785-L40C15 1785-L80E 1794-IB32
1785-L40E 1785-L86B 1794-IB8
1785-L60B 1785-L11B 1794-IC16
1785-L60L 1785-L20C15 1794-IE12
1785-L80B 1785-L30B 1794-IE4XOE2
1785-L80C 1785-L40L 1794-IE8
1785-L80C15 1785-L46B 1794-IE8H
1785-L80E 2711P-T6C8A 1794-IF4I
2711P-T12C4A8 2711P-T6C8D 1794-IF4IXT
2711P-T12C4A9 2711P-T6M1A 1794-IF8IH
2711P-T12C4D6K 2711P-T6M1D 1794-IG16
2711P-T12C4D8K 2711P-T6M20A 1794-IH16
2711P-T12C4D9 2711P-T6M20D 1794-IJ2
2711P-T15C10D2 2711P-T6M20D8 1794-IM16
2711P-T15C10D6 2711P-T6M3A 1794-IM8
2711P-T15C15D5 2711P-T6M3D 1794-IR8
2711P-T15C1D2 2711P-T6M5A 1794-IRT8
2711P-T15C4A7 2711P-T6M5D 1794-IV16
2711P-T15C4A8 2711P-T6M8A 1794-IV32
2711P-T15C4A9 2711P-T6M8D 1794-OA16
2711P-T15C4D5 2711P-T7C10D2 1794-OA8
2711P-T15C4D7 2711P-T7C10D6 1794-OA8I
| 1762-L40AWAR | 1768-ENBT | 1769-IM12 |
| 1762-L40BWA | 1768-EWEB | 1769-IQ16 |
| 1762-L40BWAR | 1768-KY1 | 1769-IQ16F |
| 1762-L40BXB | 1768-L43 | 1769-IQ32 |
| 1762-L40BXBR | 1768-L43S | 1769-IQ32T |
| 1762-OA8 | 1768-L45 | 1769-IR6 |
| 1762-OB16 | 1768-L45S | 1769-IT6 |
| 1762-OB32T | 1768-M04SE | 1769-L30ER |
| 1762-OB8 | 1768-PA3 | 1769-L30ERM |
| 1762-OF4 | 2711P-K6M3D | 1769-L31 |
| 1762-OV32T | 2711P-K6M5A | 1769-L32C |
| 1762-OW16 | 2711P-K6M5A8 | 1769-L32E |
| 1762-OW8 | 2711P-K6M5D | 1769-L33ER |
| 1762-OX6I | 2711P-K6M5D8 | 1769-L33ERM |
| 2711P-B7C4D8 | 2711P-K6M8A | 1769-L35CR |
1785-L40L 全新原装正品质保一年
1、一个系统中使用的成熟技术至少应占到75%以上
“成熟技术”一是经过一定的生产实践考验的可编程控制器产品或类似设计，或者确定能在未来的生产实践中，经得起考验；二是设计工作人员对于需要使用的技术要有经验或有掌握它的能力。设计与配置一个可编程序控制系统 的技术与设计方案切实可行。因为一个生产过程控制系统，一旦做出来，要长久使用下去，难以找到机会反复修改。设计的硬件系 统和编程软件，其中某些缺欠，可能一直隐藏在已完成的系统中。若遇到发生破坏作用的条件，后果难以预料。
2、系统的硬件结构和网络要简明而清晰
硬件结构不要追求繁琐，网络组态不要追求交叉因素太多，要力求使用可编程序控制器自 身配置的组网能力。在组成I/O机箱配套的模板时，建议型号简单，力求一致，模板密度不宜过大。使用的结线点不宜过多，从目前机箱的制造和配线工艺来看，输入与输出配线密度不能太高。
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