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商品详情
欧姆龙 CJ1W-CRM21-B 模块
1.功能测试不能代替参数测试
2. 功能测试仅能测试到器件的截止区，放大区和饱和区，但无法了解此时的工作频率的高低和速度的快慢。
3. 对数字芯片而言，仅知道有高低电平的输出变化，但无法查出它的上升和下降沿的变化速度。
4. 对于模拟芯片，它处理的是模拟的变化量。其受电路的元器件的分布，解决信号方案的不同的影响，是错综复杂的。就目前的在线测试技术，要解决模拟芯片在线测试是不可能的。所以，这项功能测试的结果，仅能供参考。
5. 大多数的在线测试议，在对于电路板上的各类芯片进行功能测试后，均会给出“测试通过”或“测试不通过”。那么它为什么不给出被测器件是否有问题呢？这就是这类测试仪的缺撼。因为在线测试时，所受影响（干扰）的因素太多。要求在测试前采取不少的措施（如断开晶振，去掉CPU和带程序的芯片，加隔离中断信号等等），这样做是否均有效，值得研究。至少，目前的测试结果有时不尽人意。
6. 了解在线测试仪的读者，均知道有这么一句行话。“在线测试时不通过的芯片不一定是损坏的；测试通过的芯片一定是没有损坏的。”它的解释为，如器件受在线影响或抗干扰时，结果可能不通过，对此不难理解。那么，是否损坏的芯片在进行测试时，均会得出“不通过”呢？回答确实不能肯定。笔者与同行均遇到过，明明芯片已损坏了（确切地说换上这个芯片板子就不工作了），但测试结果是通过的。解释为这是测试仪自身工作原理（后驱动技术）所致。故此我们不能过分依赖在线测试仪（尽管各厂家宣传的很玄）的作用，否则将使维修电路板的工作误入歧途。
欧姆龙 CJ1W-CRM21-B 模块
CJ1W-CT021
CJ1W-DA021
CJ1W-DA041
CJ1W-DA042V
CJ1W-DA08C
CJ1W-DA08V
CJ1W-DRM21
CJ1W-EIP21
CJ1W-ETN21
CJ1W-FLN22
CJ1W-IA111
CJ1W-IA201
CJ1W-IC101
CJ1W-ID201
CJ1W-ID211
CJ1W-ID212
CJ1W-ID231
CJ1W-ID232
CJ1W-ID233
CJ1W-ID261
CJ1W-ID262
CJ1W-IDP01
CJ1W-II101
CJ1W-INT01
CJ1W-MAD42
CJ1W-MCH71
CJ1W-MD231
CJ1W-MD232
CJ1W-MD233
CJ1W-MD261
CJ1W-MD263
CJ1W-MD563
CJ1W-NC113
CJ1W-NC133
CJ1W-NC213
CJ1W-NC214
CJ1W-NC233
CJ1W-NC234
CJ1W-NC271
CJ1W-NC281
CJ1W-NC413
CJ1W-NC414
CJ1W-NC433
CJ1W-NC434
CJ1W-NC471
CJ1W-NC481
CJ1W-NC881
CJ1W-NC882
CJ1W-NCF71
CJ1W-NCF71-MA
CJ1W-NCF81
CJ1W-NCF82
CJ1W-OA201
CJ1W-OC201
CJ1W-OC211
CJ1W-OD201
CJ1W-OD202
CJ1W-OD203
CJ1W-OD204
CJ1W-OD211
CJ1W-OD212
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CJ1W-OD231
CJ1W-OD232
CJ1W-OD233
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CJ1W-OD261
CJ1W-OD262
CJ1W-OD263
CJ1W-PA202
CJ1W-PA205C
CJ1W-PA205R
CJ1W-PD022
CJ1W-PD025
CJ1W-PDC15
CJ1W-PH41U
CJ1W-PNT21
CJ1W-PRM21
CJ1W-PRT21
CJ1W-PTS15
CJ1W-PTS16
CJ1W-PTS51
CJ1W-PTS52
CJ1W-SCU21-V1
CJ1W-SCU22
CJ1W-SCU31-V1
CJ1W-SCU32
CJ1W-SCU41-V1
CJ1W-SCU42
CJ1W-SP001
欧姆龙 CJ1W-CRM21-B 模块
1. 光电传感器：传感器：E3JK,E3JM,E3S-A,E3S-B,E3S-C,E3S-G,E3Z,E3F2,E3R,E3S-CL,E3S-LS, 光纤/放大器：E3X-A,E3X-F,E3X-VG,E3X-NT,E3X-NM,E3X-NH,E3X-DA,E3X-DA-N 分离放大器传感器：E3C传感器头,E3C传感器放大器
2. 接近传感器：电感型：E2E，E2C-T，TL-W，TL-Q，TL-N，E2EM，E2S 静电电容型：E2K-C，E2K-F
3. 光电微型传感器：EE系列
4. 温度控制器：模拟温度控制器：E5C2 先进的温控制器：E5AN
1.功能测试不能代替参数测试
2. 功能测试仅能测试到器件的截止区，放大区和饱和区，但无法了解此时的工作频率的高低和速度的快慢。
3. 对数字芯片而言，仅知道有高低电平的输出变化，但无法查出它的上升和下降沿的变化速度。
4. 对于模拟芯片，它处理的是模拟的变化量。其受电路的元器件的分布，解决信号方案的不同的影响，是错综复杂的。就目前的在线测试技术，要解决模拟芯片在线测试是不可能的。所以，这项功能测试的结果，仅能供参考。
5. 大多数的在线测试议，在对于电路板上的各类芯片进行功能测试后，均会给出“测试通过”或“测试不通过”。那么它为什么不给出被测器件是否有问题呢？这就是这类测试仪的缺撼。因为在线测试时，所受影响（干扰）的因素太多。要求在测试前采取不少的措施（如断开晶振，去掉CPU和带程序的芯片，加隔离中断信号等等），这样做是否均有效，值得研究。至少，目前的测试结果有时不尽人意。
6. 了解在线测试仪的读者，均知道有这么一句行话。“在线测试时不通过的芯片不一定是损坏的；测试通过的芯片一定是没有损坏的。”它的解释为，如器件受在线影响或抗干扰时，结果可能不通过，对此不难理解。那么，是否损坏的芯片在进行测试时，均会得出“不通过”呢？回答确实不能肯定。笔者与同行均遇到过，明明芯片已损坏了（确切地说换上这个芯片板子就不工作了），但测试结果是通过的。解释为这是测试仪自身工作原理（后驱动技术）所致。故此我们不能过分依赖在线测试仪（尽管各厂家宣传的很玄）的作用，否则将使维修电路板的工作误入歧途。
欧姆龙 CJ1W-CRM21-B 模块
CJ1W-CT021
CJ1W-DA021
CJ1W-DA041
CJ1W-DA042V
CJ1W-DA08C
CJ1W-DA08V
CJ1W-DRM21
CJ1W-EIP21
CJ1W-ETN21
CJ1W-FLN22
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CJ1W-ID212
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CJ1W-MAD42
CJ1W-MCH71
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CJ1W-NC281
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CJ1W-PNT21
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CJ1W-SCU21-V1
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CJ1W-SCU32
CJ1W-SCU41-V1
CJ1W-SCU42
CJ1W-SP001
| CJ1W-SPU01-V2 |
| CJ1W-SRM21 |
| CJ1W-TB101 |
| CJ1W-TC001 |
| CJ1W-TC002 |
| CJ1W-TC003 |
| CJ1W-TC004 |
| CJ1W-TC101 |
| CJ1W-TC102 |
| CJ1W-TC103 |
| CJ1W-TC104 |
| CJ1W-TER01 |
| CJ2H-CPU64 |
| CJ2H-CPU64-EIP |
| CJ2H-CPU65 |
| CJ2H-CPU65-EIP |
| CJ2H-CPU66 |
| CJ2H-CPU66-EIP |
| CJ2H-CPU67 |
| CJ2H-CPU67-EIP |
| CJ2H-CPU68 |
| CJ2H-CPU68-EIP |
| CJ2M-CPU11 |
| CJ2M-CPU12 |
| CJ2M-CPU13 |
| CJ2M-CPU14 |
| CJ2M-CPU14(Q) |
| CJ2M-CPU15 |
| CJ2M-CPU31 |
| CJ2M-CPU32 |
| CJ2M-CPU33 |
| CJ2M-CPU34 |
| CJ2M-CPU35 |
| CJ2M-MD211 |
| CJ2M-MD212 |
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| R88A-CAGA005B |
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欧姆龙 CJ1W-CRM21-B 模块
1. 光电传感器：传感器：E3JK,E3JM,E3S-A,E3S-B,E3S-C,E3S-G,E3Z,E3F2,E3R,E3S-CL,E3S-LS, 光纤/放大器：E3X-A,E3X-F,E3X-VG,E3X-NT,E3X-NM,E3X-NH,E3X-DA,E3X-DA-N 分离放大器传感器：E3C传感器头,E3C传感器放大器
2. 接近传感器：电感型：E2E，E2C-T，TL-W，TL-Q，TL-N，E2EM，E2S 静电电容型：E2K-C，E2K-F
3. 光电微型传感器：EE系列
4. 温度控制器：模拟温度控制器：E5C2 先进的温控制器：E5AN
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