BX-100DIC微分干涉相衬工业检测显微镜

BX-100DIC微分干涉相衬工业检测显微镜

ICM-100DIC工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察,   DIC观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动，机构升降平稳。产品适用于精密零件，集成电路，包装材料等产品检测。 

性能特点
★ 采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。
★ 紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。
★ 符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。
★ 机械式移动载物平台，适合于显微观察或多试样快速检测。
★ 模块化的功能设计，可以方便升级系统，实现暗场观察等功能。